Bojiong (Xangai) Tecnologia de máquinas de precisão Co., Ltd
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Sensor Wavefront de ultra alta resolução
  • Sensor Wavefront de ultra alta resoluçãoSensor Wavefront de ultra alta resolução

Sensor Wavefront de ultra alta resolução

Durante décadas, a BOJIONG esteve na vanguarda da tecnologia de detecção de interferência de frente de onda. Com uma busca incessante pela inovação, temos o orgulho de apresentar nossa mais recente oferta: o Sensor Wavefront de Ultra Alta Resolução. Este dispositivo de última geração foi meticulosamente projetado para superar as rigorosas demandas do mercado, estabelecendo um novo padrão de precisão e confiabilidade.


O Sensor Wavefront de Ultra Alta Resolução, com sua resolução ultra-alta de 512×512, atinge precisão de nível nanométrico nos dados, garantindo cobertura abrangente para análises detalhadas. Sua ampla faixa de resposta espectral de 400 a 1100 nanômetros o torna adequado para diversas fontes de luz. Além disso, oferece exibição de resultados 3D de resolução total em tempo real a uma taxa de 10 quadros por segundo, proporcionando uma visão dinâmica e imediata dos dados da frente de onda. Isso o torna uma solução abrangente para necessidades de detecção e medição de frentes de onda.

 

Especificação do item:


nome do produto

Sensor Wavefront de ultra alta resolução

Faixa de comprimento de onda

400nm~1100nm

Tamanho alvo

10mm×10mm

Resolução espacial

26μm

Resolução de amostragem

2048×2048

Resolução de fase

512×512(262144 pixels)

Precisão absoluta

<2nmRMS

Faixa dinâmica

10nmRMS

Taxa de amostragem

162μm(256min)

Velocidade de processamento em tempo real

32 fps

Tipo de interface

10 Hz (em resolução total)

Dimensão

USB3.0

Peso

70 mm × 46,5 mm × 68,5 mm

Faixa de comprimento de onda

cerca de 240g

 

Recurso do sensor Wavefront de ultra alta resolução BOJIONG

 

 

◆Resolução ultra-alta de 512×512 (262144) pontos de fase

◆Autointerferência de luz de canal único, sem necessidade de luz de referência

◆ Assim como a imagem, construção de caminho óptico fácil e rápida

◆ Banda de amplo espectro de 400nm ~ 1100nm

◆2nm RMS de alta resolução de fase

◆ resistência à vibração ultra-alta, sem necessidade de isolamento óptico de vibração

◆ Suporta feixes colimados e grandes feixes convergentes NA

 

 Aplicação do sensor Wavefront de ultra alta resolução BOJIONG

 

Este sensor de frente de onda de ultra alta resolução BOJIONG é usado na detecção de frente de onda de feixe de laser, óptica adaptativa, medição de formato de superfície, calibração de sistema óptico, detecção de janela óptica, plano óptico, medição de formato de superfície esférica, detecção de rugosidade de superfície.

 

detecção de frente de onda por feixe de laser

Medição óptica da forma da superfície plana

Medição de formato de superfície esférica óptica

Medição de aberração de sistemas ópticos

Detecção óptica de peças de janela

Medição da distribuição da rede dentro do material

Óptica adaptativa - resposta de detecção de frente de onda no modo Zernike

 

 

Detalhes do sensor Wavefront de ultra alta resolução BOJIONG

 

Sensor Wavefront de ultra alta resolução desenvolvido por uma equipe de professores da Universidade de Zhejiang e da Universidade Tecnológica de Nanyang de Cingapura, com tecnologia patenteada nacional, combina difração e interferência para obter uma interferência de cisalhamento transversal comum de quatro ondas, com sensibilidade de detecção superior e desempenho antivibração , e pode realizar interferometria dinâmica em tempo real e de alta velocidade sem isolamento de vibração. A medição em tempo real mostra uma taxa de quadros superior a 10 quadros. Ao mesmo tempo, o sensor FIS4 tem uma resolução de fase ultra-alta de 512×512 (260.000 pontos de fase), a banda de medição cobre 200nm ~ 15μm, a sensibilidade de medição atinge 2nm e a repetibilidade da medição é melhor que 1/1000λ ( RMS). Ele pode ser usado para análise de qualidade de feixe de laser, detecção de campo de fluxo de plasma, medição em tempo real de distribuição de campo de fluxo de alta velocidade, avaliação de qualidade de imagem de sistema óptico, medição de perfil microscópico e imagem quantitativa de fase de células biológicas.

 


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