Desenvolvido especificamente para medição interferométrica conveniente na indústria, pesquisa científica e defesa nacional. Alta resolução de 300 × 300 (90.000) pontos de fase, resposta espectral de largura de 400-1100 nm, 10 quadros de exibição de resultados 3D em tempo real de resolução total, fornecendo uma ferramenta de medição de detecção de frente de onda ideal para detecção de frente de onda de feixe de laser, óptica adaptativa, sistema óptico calibração, detecção de janela óptica, formato de superfície plana óptica, medição de formato de superfície esférica, rugosidade de superfície, detecção de microcontorno de superfície, etc.
Sensor interferômetro de quatro ondas de alta resolução FIS4 HRusa tecnologia patenteada de difração de quatro ondas codificadas aleatoriamente para obter autointerferência de frente de onda medida em canal único, e a interferência ocorre na posição do plano de imagem traseira. Possui baixos requisitos de coerência da fonte de luz, não requer mudança de fase e pode realizar medições interferométricas usando um sistema de imagem comum. Possui resistência à vibração ultra-alta e estabilidade ultra-alta, e pode atingir medições de precisão de nível nm sem isolamento de vibração. Comparado com o sensor Hartmann de matriz de microlentes, ele possui mais pontos de fase de alta resolução, uma faixa de banda adaptativa mais ampla, uma faixa dinâmica maior e melhor desempenho de custo.
Principais características
◆ Alta resolução de 300×300 (90.000) pontos de fase
◆ Autointerferência de luz de caminho único, sem necessidade de espelho de referência
◆ Banda de amplo espectro de 400 nm ~ 1100 nm
◆ Resolução de alta fase RMS de 2 nm
◆ Resistência à vibração extremamente forte, sem necessidade de isolamento óptico de vibração
◆ Construção de caminho óptico de interferência simples e rápida
◆ Suporta feixes colimados e grandes feixes convergentes NA
Aplicações de produtos
Detecção de frente de onda de feixe de laser, óptica adaptativa, medição de superfície plana, calibração de sistema óptico, detecção de janela óptica, plano óptico, medição de superfície esférica, detecção de rugosidade de superfície.
