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Resolução ultra-alta de 512 × 512 (262144) pontos de fase, alcançando medição de frente de onda de alta precisão na banda de 900 nm a 1200 nm, que pode ser usada para medição de aberração de sistema óptico, calibração de sistema óptico, medição de distribuição de rede interna de material, metassuperfície, superlente medição de frente de onda, etc.

Especialmente desenvolvido para análise de frente de onda em cenários industriais, de defesa e de pesquisa científica de alta velocidade, como tiros voadores e campos de fluxo, possui uma resolução ultra-alta de 420×420 (176400) pontos de fase, uma resposta de amplo espectro de 400-1100nm, e 107 quadros de amostragem de alta velocidade, fornecendo uma ferramenta ideal de medição de detecção de frente de onda para detecção de rugosidade de superfície de wafer, medição de micromorfologia de substrato de vidro e à base de silício, aerodinâmica óptica, campo de fluxo de alta velocidade, medição de densidade de plasma de gás, etc.

Projetado para auxiliar pesquisas científicas e cenários industriais de alta precisão, resolução mais alta pode fornecer informações mais detalhadas na detecção de frente de onda, resolução ultra-alta de 512 × 512 (262144) pontos de fase, resposta de amplo espectro de 400-1100 nm, 10 quadros de full- exibição de resultados 3D de resolução em tempo real, fornecendo ferramentas ideais de medição de detecção de frente de onda para detecção de frente de onda por feixe de laser, óptica adaptativa, medição de superfície plana, calibração de sistema óptico, janela óptica detecção, medição óptica de superfície esférica, detecção de rugosidade superficial, microcontorno de superfície, etc.

Desenvolvido especificamente para medição interferométrica conveniente na indústria, pesquisa científica e defesa nacional. Alta resolução de 300 × 300 (90.000) pontos de fase, resposta espectral de largura de 400-1100 nm, 10 quadros de exibição de resultados 3D em tempo real de resolução total, fornecendo uma ferramenta de medição de detecção de frente de onda ideal para detecção de frente de onda de feixe de laser, óptica adaptativa, sistema óptico calibração, detecção de janela óptica, formato de superfície plana óptica, medição de formato de superfície esférica, rugosidade de superfície, detecção de microcontorno de superfície, etc.

A presente invenção realiza a alteração da taxa de cisalhamento através do dispositivo de transmissão da seguinte forma