Bojiong (Xangai) Tecnologia de máquinas de precisão Co., Ltd
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Sensor de frente de onda infravermelho próximo
  • Sensor de frente de onda infravermelho próximoSensor de frente de onda infravermelho próximo

Sensor de frente de onda infravermelho próximo

O sensor de frente de onda infravermelho próximo, especializado em medições de frente de onda de alta precisão na faixa de comprimento de onda de 900 nanômetros a 1.200 nanômetros, fornece aos clientes soluções precisas para medição e análise de desempenho óptico, contribuindo para o aprimoramento da qualidade do produto e da eficiência da produção. Nos últimos anos, temos expandido as nossas capacidades de produção, fortalecendo a nossa experiência técnica e estabelecendo uma sólida estrutura operacional corporativa. Esperamos sinceramente a oportunidade de colaborar com você em um futuro próximo.


O sensor Wavefront de infravermelho próximo com uma faixa dinâmica impressionante de até 270 μm. Possui excepcional resistência e estabilidade à vibração, permitindo medições de precisão em nível nanométrico sem a necessidade de isolamento de vibração. Este instrumento é adequado para medir a distribuição da rede interna de materiais, bem como medições de frente de onda para metassuperfícies e hiperlentes. Sempre aderiremos ao princípio de "qualidade em primeiro lugar, cliente em primeiro lugar" e convidamos cordialmente os clientes a nos visitar para consulta.

 

Especificação do item:

 

nome do produto

Sensor de frente de onda infravermelho próximo

Faixa de comprimento de onda

900nm~1200nm

Tamanho alvo

12mm×12mm

Resolução espacial

23,4μm

Resolução de amostragem

512×512(262144 pixels)

Resolução de fase

<2nmRMS

Precisão absoluta

15nmRMS

Faixa dinâmica

270μm(256min)

Taxa de amostragem

32 fps

Velocidade de processamento em tempo real

7 Hz (resolução total)

Tipo de interface

USB3.0

Dimensão

70 mm × 46,5 mm × 68,5 mm

Peso

cerca de 240g


Recurso do sensor de frente de onda infravermelho próximo BOJIONG

 

 

 

◆Grande faixa dinâmica de até 270μm

◆2nm RMS de alta resolução de fase

◆Resolução ultra-alta de 512×512 (262144) pontos de fase

◆Autointerferência de luz de canal único, sem necessidade de luz de referência

◆ Banda de amplo espectro de 900nm ~ 1200nm

◆Desempenho antivibração extremamente forte, sem necessidade de isolamento óptico de vibração

◆ Assim como a imagem, construção de caminho óptico fácil e rápida

◆ Suporta feixes colimados e grandes feixes convergentes NA


 Aplicação do sensor de frente de onda infravermelho próximo BOJIONG

 

Este sensor de frente de onda infravermelho próximo BOJIONG usado em medição de aberração de sistema óptico, calibração de sistema óptico, medição de distribuição de rede interna de material, hipersuperfície, medição de frente de onda de hiperlente

 

Exemplo de medição de aberração de sistema óptico

Medição de amostra da distribuição de rede dentro de um material

Exemplos de medição de calibração de sistema óptico

Exemplo de medição de frente de onda de metassuperfície

Exemplo de medição de frente de onda de hiperlente

 

 

 

Detalhes do sensor Wavefront de infravermelho próximo BOJIONG

 

Sensor de frente de onda infravermelho próximo BOJIONG desenvolvido por uma equipe de professores da Universidade de Zhejiang e da Universidade Tecnológica de Nanyang de Cingapura, com tecnologia patenteada nacional, combina difração e interferência para obter uma interferência de cisalhamento transversal comum de quatro ondas, com sensibilidade de detecção superior e anti- desempenho de vibração e pode realizar interferometria dinâmica em tempo real e de alta velocidade sem isolamento de vibração. A medição em tempo real mostra uma taxa de quadros superior a 10 quadros. Ao mesmo tempo, o sensor FIS4 tem uma resolução de fase ultra-alta de 512×512 (260.000 pontos de fase), a banda de medição cobre 200nm ~ 15μm, a sensibilidade de medição atinge 2nm e a repetibilidade da medição é melhor que 1/1000λ ( RMS). Ele pode ser usado para análise de qualidade de feixe de laser, detecção de campo de fluxo de plasma, medição em tempo real de distribuição de campo de fluxo de alta velocidade, avaliação de qualidade de imagem de sistema óptico, medição de perfil microscópico e imagem quantitativa de fase de células biológicas.

 

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