FIS4 Sensor de frente de onda de alta resolução 400-900nm
O bojiong Sensor Fis4 Wavefront 400-900nm Utiliza quatro ondas inovadorasE Tecnologia de interferometria de cisalhamento lateral. Com uma densidade ultra-alta de 512 × 512 (mais de 260.000) pontos de detecção de fase, ela atinge a resolução de frente de onda no nível de nanômetros. O Sensor de frente de onda Mantém a precisão da medição de 2nm RMS em ambientes padrão sem isolamento e produz um conjunto completo de especificações ópticas, incluindo coeficientes da Zernike, PSF e MTF, com resolução total a 5 quadros por segundo. Aproveitando um algoritmo de grade codificado e adaptativo produzido no mercado interno, ele opera de forma estável em ambientes industriais complexos, incluindo aqueles caracterizados por vibração e flutuações de temperatura. Ele fornece uma solução de medição de frente para ondas altamente confiável para fabricação de ultra-precisão, montagem do sistema optoeletrônico e pesquisa científica de ponta.
BojiongSensor Fis4 Wavefront 400-900nm Introdução
OFIS4 Sensor de frente de onda de alta resolução 400-900nm é o principal instrumento de medição óptica da próxima geração da nossa empresa. Ele possui a certificação do sistema de gestão da qualidade da ISO 9001 e é rastreável ao Instituto Nacional de Metrologia da China (NIM). Vem com umum-Ear garantia. Esse sensor utiliza um sistema óptico de interferômetro de path comum proprietário e arquitetura de solução de frente para ondas em tempo real, eliminando a necessidade de mudança de fase ou espelhos de referência. Ele pode atingir medições estáveis 512 × 512 de frente de onda de alta resolução, mesmo em ambientes de alta vibração.
Com sua precisão ultra-alta RMS de 2 nm, faixa dinâmica ≥160 μm de largura e 5 quadros/segundo capacidade de saída em tempo real do parâmetro completo, oSensor de frente de onda FIS4pode capturar com precisão detalhes de frente de onda transitórios e aberrações de alta ordem. É amplamente aplicável a campos como diagnóstico de feixe a laser, inspeção de superfície de forma livre, óptica adaptativa e fabricação de ultra-precisão. Ele realmente alcança "a medição de start-up sem isolamento de vibração", melhorando bastante a eficiência e a confiabilidade da inspeção óptica de alta precisão.
BojiongSensor Fis4 Wavefront 400-900nm Parâmetro (especificação)
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Fonte de luz |
Laser contínuo, laser pulsado, LED, lâmpada de halogênio e outras fontes de luz de amplo espectro |
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Faixa de comprimento de onda |
400 ~ 900nm |
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Tamanho do alvo |
13,3 × 13.3 |
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Resolução espacial |
26mm |
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Resolução de saída de fase |
512 × 512 |
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Precisão absoluta |
15nmrms |
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Resolução de fases |
≤2nmrms |
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Faixa dinâmica |
≥160μm |
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Taxa de amostra |
40fps |
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Velocidade de processamento em tempo real |
5Hz(em resolução total) |
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Tipo de interface |
USB3.0 |
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Tamanho |
70x46.5x68.5 |
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Peso |
Cerca de 240g |
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Método de resfriamento |
Num |
BojiongSensor Fis4 Wavefront 400-900nm Recurso e aplicação
Desde 2006,A equipe do professor Yang Yongying da Universidade de Zhejiang lançou a série FIS4 de amplo espectroSensores de frente de onda Após 17 anos de pesquisa e desenvolvimento, usando o design de path comum e algoritmos de reconstrução em tempo real.
· O design do caminho óptico único elimina a necessidade de luz de referência, permitindo a operação plug-and-play.
· Detecção em tempo real dos dados de frente de onda é possível sem a necessidade de uma vibração
Plataforma de isolamento.
· A sensibilidade pode atingir o 2nm RMS.
· A resolução atinge 512 × 512.
· O tamanho é apenas do tamanho de um punho.
EsseFIS4 Sensor de frente de onda de alta resolução 400-900nm é desenvolvido especificamente para ajudar a pesquisa científica e cenários industriais de alta precisão. Sua resolução ultra-alta pode detectar mais detalhes da frente de onda do objeto em teste. Possui uma resolução ultra-alta de 512 × 512 (262.144) pontos de fase, uma ampla resposta espectral de 400-900nm e uma tela 3D em tempo real de resolução completa de 5 quadros. Ele fornece uma ferramenta ideal de medição de detecção de frente para a onda para detecção de frete de viga a laser, óptica adaptativa, medição da superfície plana, calibração do sistema óptico, detecção de janela óptica, medição de superfície esférica óptica, detecção de rugosidade da superfície e micro-perfil de superfície.
Bojiong Sensor Fis4 Wavefront 400-900nm Aplicativo
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Detecção de frente de onda de feixe a laser |
Medição de forma de superfície plana óptica |
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Medição óptica de forma de superfície esférica |
Medição de aberração de sistemas ópticos |
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Detecção de peça de janela óptica |
Medição da distribuição da treliça dentro do material |
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Resposta de detecção de frente de onda do modo Zernike |
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BojiongSensor Fis4 Wavefront 400-900nm Detalhes
OFIS4 Sensor de frente de onda de alta resolução 400-900nm Utiliza a tecnologia de difração de quatro ondas de codificação aleatória patenteada, desenvolvida de forma independente, alcançando a auto-interferência da frente de onda medida usando uma fonte de luz de caminho único. Esse processo de interferência ocorre no plano da imagem traseira. Essa tecnologia reduz significativamente os requisitos para a coerência da fonte de luz, eliminando a necessidade de qualquer câmbio de fase e permitindo medições interferométricas de alta precisão com sistemas de imagem convencionais. O produto exibe resistência excepcional a vibrações ambientais e estabilidade operacional ultra-alta, atingindo a precisão da medição no nível dos nanômetros sem a necessidade de uma base de isolamento de vibração. Comparado aos sensores tradicionais de matriz de microlenos, o FIS4 oferece vantagens significativas: aquisição de pontos de fase de maior densidade, faixa de resposta espectral mais ampla e uma maior faixa de medição dinâmica, enquanto oferece desempenho geral superior de custo. Com sua arquitetura técnica inovadora, o FIS4Sensor de frente de onda Redefine o padrão para medição óptica de alta precisão, fornecendo uma solução avançada mais confiável e econômica para pesquisa científica e testes industriais.
Fig.1. Princípio de imagem da fase com base na interferência de cisalhamento lateral de quatro ondas usando grade híbrida de codificação aleatória (REHG)
Fig.2. LeAST Square Wavefront Reconstruction a partir de interferograma de cisalhamento lateral de quatro ondas
OSensor de frente de onda FIS4, com seu design compacto, demonstra grande conveniência quando integrado aos sistemas de microscopia existentes, permitindo uma fácil adaptação e operação colaborativa. Enquanto isso, possui excelente robustez e, mesmo em ambientes relativamente severos, como alta vibração, ainda pode manter com precisão a sensibilidade à interferência, garantindo a precisão e a confiabilidade dos dados de medição.
Vale ressaltar que o sensor de frente de onda do FIS4 suporta medição de tiro único, um recurso que permite capturar com eficiência processos dinâmicos rápidos e fornecer um forte suporte de dados para pesquisas relevantes.
No campo da pesquisa biomédica, oSensor de frente de onda FIS4tem aplicações amplas e importantes. Pode alcançar uma imagem livre de rótulos, de alta resolução e em tempo real de várias células vivas, como COS-7, células HT1080, células de EPR, células CHO, células HEK e neurônios, fornecendo dados de imagem claros e altamente valiosos para pesquisas aprofundadas sobre mecanismos fisiológicos de nível celular e outros estudos.Sensor de frente de onda FIS4Também tem um desempenho excelentemente, fornecendo forte contraste para visualizar claramente tecidos anisotrópicos e estruturas subcelulares, como fibras de colágeno e citoesqueletos, ajudando os pesquisadores a observar e analisar melhor características estruturais microscópicas.
Além disso, essa tecnologia foi estendida ainda mais ao campo da imagem de fase nas regiões infravermelhas de raio-x, de comprimento de onda (MWIR) e de comprimento de onda longo (LWIR), demonstrando totalmente seu grande potencial em aplicações interdisciplinares e abrindo novas idéias e métodos para pesquisas cruzadas multidisciplinares.
Além disso, em estudos recentes, a tecnologia de detecção de frente para ondas doSensor de frente de onda FIS4também tem sido amplamente utilizado na caracterização de metasurfaces e materiais bidimensionais, o que, sem dúvida, destaca seus muitos valores práticos e potencial significância importante nos campos da óptica e da ciência dos materiais e fornece um poderoso meios técnicos para o desenvolvimento adicional de campos relacionados.
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578 Road Yingkou, distrito de Yangpu, Xangai, China
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