Analisador de frente de onda infravermelho próximo

O analisador de frente de onda por infravermelho próximo que combina a tecnologia patenteada de difração de quatro ondas codificadas aleatoriamente com uma câmera infravermelha permite que a medição de interferência seja conduzida por sistemas de imagem comuns. Possui um nível excepcionalmente alto de resistência e estabilidade à vibração, permitindo medições de precisão em nível nanométrico sem a necessidade de isolamento de vibração. É adequado para medir a distribuição da rede interna de materiais, bem como para medições de frente de onda de metassuperfícies e hiperlentes.

Especificação do item:

Recurso do analisador de frente de onda infravermelho próximo BOJIONG

◆ Banda de amplo espectro de 900nm ~ 1200nm

◆2nm RMS de alta resolução de fase

◆Resolução ultra-alta de 512×512 (262144) pontos de fase

◆Autointerferência de luz de canal único, sem necessidade de luz de referência

◆Grande faixa dinâmica de até 270μm

◆Desempenho antivibração extremamente forte, sem necessidade de isolamento óptico de vibração

◆ Assim como a imagem, construção de caminho óptico fácil e rápida

◆ Suporta feixes colimados e grandes feixes convergentes NA

Aplicação do analisador de frente de onda infravermelho próximo BOJIONG

Este analisador de frente de onda de infravermelho próximo BOJIONG usado na medição de aberração de sistema óptico, calibração de sistema óptico, medição de distribuição de rede interna de material, hipersuperfície, medição de frente de onda de hiperlente

Detalhes do analisador Wavefront de infravermelho próximo BOJIONG

Analisador de frente de onda por infravermelho próximo BOJIONG desenvolvido por uma equipe de professores da Universidade de Zhejiang e da Universidade Tecnológica de Nanyang de Cingapura, com tecnologia patenteada nacional, combina difração e interferência para obter uma interferência de cisalhamento transversal comum de quatro ondas, com sensibilidade de detecção superior e anti- desempenho de vibração e pode realizar interferometria dinâmica em tempo real e de alta velocidade sem isolamento de vibração. A medição em tempo real mostra uma taxa de quadros superior a 10 quadros. Ao mesmo tempo, o sensor FIS4 tem uma resolução de fase ultra-alta de 512×512 (260.000 pontos de fase), a banda de medição cobre 200nm ~ 15μm, a sensibilidade de medição atinge 2nm e a repetibilidade da medição é melhor que 1/1000λ ( RMS). Ele pode ser usado para análise de qualidade de feixe de laser, detecção de campo de fluxo de plasma, medição em tempo real de distribuição de campo de fluxo de alta velocidade, avaliação de qualidade de imagem de sistema óptico, medição de perfil microscópico e imagem quantitativa de fase de células biológicas.